Centro di servizi per le strumentazioni scientifiche di Ateneo

Microscopia applicata alle superfici

Microscopio elettronico a scansione (SEM) Jeol JSM-5600LV

Tensione di accelerazione da 1 a 30 kV sistema di pressione variabile nella camera del campione equipaggiato con:

  • rivelatore Everhart-Thornley per elettroni secondari;
  • rivelatore a semiconduttore a quadrante multiplo per elettroni retrodiffusi;
  • spettrometro a raggi X a dispersione di energia (EDS) Oxford Instruments ISIS Series 300, con risoluzione di 133 eV @ MnKα (5.9 keV)

Dove: Campus Scientifico, Edificio Eta, piano terra (centro di Microscopia Elettronica Giovanni Stevanato)


Hitachi High-Tech TM3000 tabletope microscope (a destra) e sistema di microanalisi EDX modello Oxford SwiftED-3000 (a sinistra)

Microscopio elettronico a scansione (SEM) Hitachi High-Tech TM3000 Tabletope microscope

  • Detector BSE a semiconduttore ad alta sensibilità a quattro settori
  • Ingrandimenti fino a 30000x
  • Condizioni di osservazione: 5kV / 15 kV e Analy (EDX )
  • Modalità di osservazione standard e con riduzione di carica (per misura a basso vuoto su campioni anche non metalizzati)
  • Immagine BSE composizionale, topografica e a due diverse ombreggiature
  • Grandezza massima del campione: 70 mm di diametro
  • Altezza massima del campione: 50 mm
  • Sorgente: filamento di tungsteno precentrato

Sistema di microanalisi EDX modello Oxford SwiftED-3000

  • Rivelatore: Silicon Drift Detector (SDD)
  • Area di rilevamento: 30 mm2
  • Risoluzione energetica: 161eV (Cu-Ka) equivalente a 137 eV con Mn-Ka
  • Finestra a raggi X Super Atmosphere Thin Window (SATW)
  • Rivelamento elementi da B5 a U92
  • Analizzatore multicanale Canale 2.048 (10eV/ch)

Consente di eseguire la mappatura di più elementi con una combinazione di un massimo di tre elementi.

Dove: Campus Scientifico, Edificio Beta, 3°piano (Laboratorio VToBETA3L1)


Cressington 108auto-automatic sputter coater per applicazione SEM/EDX munito di sorgente d’oro

  • Dimensione della camera 120 mm Ø x 120 mm di altezza
  • Testa planare a bassa tensione
  • Bersaglio oro montato di serie
  • Controllo corrente indipendente dal vuoto variabile 10 - 40mA

Dove: Campus Scientifico, Edificio Beta, 3°piano (Laboratorio VToBETA3L4)


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Last update: 20/11/2019