MICROSCOPY AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES - MOD.1
- Anno accademico
- 2020/2021 Programmi anni precedenti
- Titolo corso in inglese
- MICROSCOPY AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES - MOD.1
- Codice insegnamento
- CM1327 (AF:332887 AR:175256)
- Lingua di insegnamento
- Inglese
- Modalità
- In presenza
- Crediti formativi universitari
- 6 su 12 di MICROSCOPY AND STRUCTURAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES
- Livello laurea
- Laurea magistrale (DM270)
- Settore scientifico disciplinare
- CHIM/02
- Periodo
- II Semestre
- Anno corso
- 1
- Spazio Moodle
- Link allo spazio del corso
Inquadramento dell'insegnamento nel percorso del corso di studio
metodologici atti alla caratterizzazione di materiali.
Obiettivi dell’insegnamento sono: fornire le conoscenze di base della cristallografia e della diffrazione a raggi-X come strumento per caratterizzare la struttura dei materiali. Il corso fornirà i fondamenti delle simmetrie dei solidi nelle due dimensioni per poi estendere i concetti al caso tridimensionale allo scopo di dare uno strumento quantitativo per la descrizione dei solidi cristallini. Queste conoscenze verrano poi utilizzate per l'interpretazione dei dati ottenuti tramite la diffrazione di Raggi-X Alla fine del corso lo studente avrà le basi per identificare le fasi cristalline presenti in qualsivoglia materiale, calcolare le dimensioni caratteristiche delle particelle, studiare nel dettaglio le modifiche strutturali a seguito di drogaggio dei materiali.
Risultati di apprendimento attesi
frontali, esercitazioni) e lo studio individuale
consentiranno agli studenti di raggiungere il seguente grado di conoscenza e comprensione:
1. acquisire i metodi principali per la classificazione dei solidi in base alle loro proprietà di simmetria;
2. apprendere le tecniche di diffrazione di raggi-X per lo studio e l'analisi di materiali anche nanostrutturati.
Lo studente acquisirà la capacità di applicare conoscenza e comprensione per lo studio di sistemi a dimensione nanometrica
correlando le proprietà dimensionali/strutturali con le proprietà macroscopiche.
La capacità di giudizio consisterà nel sapere applicare lo studio relativo alle proprietà del mondo a dimensione nanometrica in ambito tecnologico ed applicativo.
Prerequisiti
saranno necessari per poter frequentare in modo proficuo questo insegnamento.
Contenuti
Interazione fotoni-X materia, Strumentazione, tecniche di diffrazione: cristallo singolo e metodo delle polveri.
Applicazioni della diffrazione X nello studio dei materiali: equazione di Scherrer, metodo di Rietveld.
Testi di riferimento
Pecharsky Vitalij, Zavalij Peter, Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials,Springer. Berlin, 2008.
Fultz Brent, Howe James, Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials, Springer 4th edition 2013.
Modalità di verifica dell'apprendimento
Modalità di esame
Metodi didattici
Altre informazioni
Accessibilità, Disabilità e Inclusione
Accomodamenti e Servizi di Supporto per studenti con disabilità o con disturbi specifici dell’apprendimento:
Ca’ Foscari applica la Legge Italiana (Legge 17/1999; Legge 170/2010) per i servizi di supporto e di accomodamento disponibili agli studenti con disabilità o con disturbi specifici dell’apprendimento. In caso di disabilità motoria, visiva, dell’udito o altre disabilità (Legge 17/1999) o un disturbo specifico dell’apprendimento (Legge 170/2010) e si necessita di supporto (assistenza in aula, ausili tecnologici per lo svolgimento di esami o esami individualizzati, materiale in formato accessibile, recupero appunti, tutorato specialistico a supporto dello studio, interpreti o altro), si contatti l’ufficio Disabilità e DSA disabilita@unive.it.